D8DISCOVER是旗艦款多功能X射線衍射儀,帶有諸多前沿技術組件。它專為在環境條件下和非環境條件下,對從粉末、非晶和多晶材料到外延多層薄膜等各種材料進行結構表征而設計。應用范圍:1.定性相分析和定量相分析、結構測定和精修、微應變和微晶尺寸分析2.X射線反射法、掠入射衍射(GID)、面內衍射、高分辨率XRD、GISAXS、GI應力分析、晶體取向分析3.殘余應力分析、織構和極圖、微區X射線衍射、廣角X射線散射(WAXS)4.總散射分析:Bragg衍射、對分布函數(PDF)、小角X射線散射(SAXS)配備了UMC樣品臺的DISCOVER,優勢在于對大型機械零件殘余應力和織構分析以及殘余奧氏體或高溫合金表征。湖北BRUKERXRD衍射儀檢測
石油和天然氣D2PHASER是一種移動式的臺式X射線衍射儀(XRD),可用于鑒定地質樣品中的塊狀和黏土礦物。此外,X射線衍射(XRD)是分析頁巖層所必不可少的技術,可進行礦物學定性和定量表征。X射線衍射在石化業:使用D2PHASER識別膨脹性粘土(PDF)X射線衍射在石化業:使用D2PHASER對頁巖層進行井場礦物學分析(PDF)無論是新手用戶還是專業用戶,都可簡單快捷、不出錯地對配置進行更改。這都是通過布魯克獨特的DAVINCI設計實現的:配置儀器時,免工具、免準直,同時還受到自動化的實時組件識別與驗證的支持。不僅如此——布魯克提供基于NIST標樣剛玉(SRM1976)的準直保證。目前,在峰位、強度和分辨率方面,市面上尚無其他粉末衍射儀的精度超過D8ADVANCE。湖北XRD衍射儀配件殘余應力分析、織構和極圖、微區X射線衍射、廣角X射線散射(WAXS)。
D8ADVANCEECO是一款功能齊全的D8ADVANCE衍射儀的經濟型版本,是D8衍射儀系列平臺的入門款。隨著采購和維護X射線分析的資源愈發有限,人們對準確性、精度和速度的要求也達到了前所未有的高度。D8ADVANCEECO即理想的解決方案:較小的生態足跡、易用性和出色的分析性能是其突出的特點。得益于精簡的儀器配置,不論預算如何,它都是您的理想之選。與D8ADVANCE系列其他產品一樣,D8ADVANCEECO覆蓋所有X射線粉末衍射和散射應用,包括典型的X射線粉末衍射(XRD)對分布函數(PDF)分析小角X射線散射(SAXS)和廣角X射線散射(WAXS)環境條件下和非環境條件下。
那么,碳晶體的晶胞參數可直接用來表征其石墨化度。XRD法利用石墨的晶格常數計算石墨化度G[1]:式中:0.3440為完全非石墨化炭的(002)晶面間距,nm;0.3354為理想石墨晶體的(002)晶面間距,nm。為實際石墨試樣(002)晶面間距,nm。實例不同石墨的石墨化度為了準確的確定值或(002)峰的峰位,需要在樣品中加入內標以校準。本文根據QJ2507-93[2]規范,用硅作為內標物,加入待測石墨樣品中,在瑪瑙研缽中混合研磨均勻。石墨及其復合材料具有高溫下不熔融、導電導熱性能好以及化學穩定性優異等特點,應用于冶金、化工、航空航天等行業。特別是近年來鋰電池的快速發展,進一步加大了石墨材料的需求。工業上常將碳原料經過煅燒破碎、焙燒、高溫石墨化處理來獲取高性能人造石墨材料。石墨的質量對電池的性能有很大影響,石墨化度是一種從結構上表征石墨質量的方法之一。在DIFFRAC.TEXTURE中,使用球諧函數和分量方法,生成極圖、取向分布函數(ODF)和體積定量分析。
汽車和航空航天:配備了UMC樣品臺的D8D的一大優勢就是可以對大型機械零件進行殘余應力和結構分析以及殘余奧氏體或高溫合金表征。半導體與微電子:從過程開發到質量控制,D8D可以對亞毫米至300mm大小的樣品進行結構表征。制藥業篩選:新結構測定以及多晶篩選是藥物開發的關鍵步驟,對此,D8D具有高通量篩選功能。儲能/電池:使用D8D,您將能在原位循環條件下測試電池材料,直接了當的獲取不斷變化的儲能材料的晶體結構和相組方面的信息。在DIFFRAC.EVA中,進行半定量分析,以現實孔板上不同相的濃度。江西BRUKERXRD衍射儀哪里好
EIGER2 R 250K和500K是將Synchrotron性能帶入實驗室X射線衍射的2D檢測器。湖北BRUKERXRD衍射儀檢測
所有維度都非常好的數據質量不論在何種應用場合,它都是您的可選的探測器:高的計數率、動態范圍和能量分辨率,峰位精度布魯克提供基于NIST標樣剛玉(SRM1976c)整個角度范圍內的準直保證,面向未來的多用途采用了開放式設計并具有不受約束的模塊化特性的同時,將用戶友好性、操作便利性以及安全操作性發揮得淋漓盡致,這就是布魯克DAVINCI設計,布魯克獲得的TWIN-TWIN光路設計極大地簡化了D8ADVANCE的操作,使之適用于多種應用和樣品類型。為便于用戶使用,該系統可在4種不同的光束幾何之間進行自動切換。該系統無需人工干預,即可在Bragg-Brentano粉末衍射幾何和不良形狀的樣品、涂層和薄膜的平行光束幾何以及它們之間進行切換,且無需人工干預,是在環境下和非環境下對包括粉末、塊狀物體、纖維、片材和薄膜(非晶、多晶和外延)在內的所有類型的樣品進行分析的理想選擇。湖北BRUKERXRD衍射儀檢測