在PID預(yù)防及恢復(fù)中，光伏組件在漏電流的作用下，帶正電的載流子穿過玻璃，通過邊框流向地面，使得負(fù)電荷在電池片表面堆積，吸引光電載流子（空穴）流向N型硅的表面聚集起來，而不是像正常狀態(tài)下一樣流向正極（P極）。這種表面極化現(xiàn)象而引起的輸出功率衰減就是PID效應(yīng)。了解到PID效應(yīng)對光伏電站發(fā)電量的巨大影響，抑制PID效應(yīng)更加刻不容緩。根據(jù)對PID效應(yīng)的分析可以得出其兩種處理方案，一種是從組件側(cè)考慮，另一種是從逆變器側(cè)考慮，從組件側(cè)考慮，采用非Na、Ca玻璃提高玻璃的體電阻，阻斷漏電流通路的形成；采用非乙烯—醋酸乙烯共聚物的封裝材料。PID效應(yīng)又稱電勢誘導(dǎo)衰減，是電池組件的封裝材料和其上表面及下表面的材料。湖北質(zhì)衛(wèi)科技PID預(yù)防及恢復(fù)Mini AntiPID

在PID預(yù)防及恢復(fù)中，PID效應(yīng)的產(chǎn)生原因還是組件在受到負(fù)偏壓時(shí)，由漏電流陽極離子（一般為Na離子）流入電池片，從而降低電池的并聯(lián)電阻。即，半導(dǎo)體內(nèi)出現(xiàn)了雜質(zhì)，這些雜質(zhì)會形成電池內(nèi)部的導(dǎo)電通道，降低了組件的電流輸出。另外光伏組件的邊緣部分容易有水氣進(jìn)入，EVA發(fā)生水解后會生成醋酸，醋酸和玻璃中的Na反應(yīng)，可以生成大量的自由移動(dòng)的Na離子，會與電池片表面的銀柵線發(fā)生反應(yīng)，從而腐蝕電池柵線，導(dǎo)致串聯(lián)電阻的升高，導(dǎo)致組件性能衰減，此類衰減不可恢復(fù)。如果給組件施加負(fù)偏壓（電池片電壓相對邊框?yàn)樨?fù)值），則可以把積累的負(fù)電荷排出到地面上，電池性能得到恢復(fù)，這就是電池性能可恢復(fù)的極化效應(yīng)。質(zhì)衛(wèi)PID預(yù)防及恢復(fù)制造商對于PID預(yù)防及恢復(fù)，可以采用串聯(lián)組件的負(fù)極接地或是在晚間對組件和大地之間施加正電壓。

為了做好PID預(yù)防及恢復(fù)，在光伏組件安裝前檢查組件是否有陰影和灰塵；檢測每一塊組件的功率是否足夠；調(diào)整組件的安裝角度和朝向；檢測組件串聯(lián)后電壓是否在電壓范圍內(nèi)，電壓過低系統(tǒng)效率會降低；多路組串安裝前，先檢查各路組串的開路電壓，相差不超過5V，如果發(fā)現(xiàn)電壓不對，要檢查線路和接頭；安裝時(shí)，可以分批接入，每一組接入時(shí)，記錄每一組的功率，組串之間功率相差不超過2%。要是這些方法還不行得話，還有可能是：安裝地方通風(fēng)不暢通，逆變器熱量沒有及時(shí)散播出去，或者直接在陽光下曝露，造成逆變器溫度過高；電纜接頭接觸不良，電纜過長，線徑過細(xì)，有電壓損耗，然后造成功率損耗；光伏電站并網(wǎng)交流開關(guān)容量過小，達(dá)不到逆變器輸出要求。

在PID預(yù)防及恢復(fù)中，面積灰對光伏組件性能也有一定的影響，積累灰塵的時(shí)間越長造成的透光率衰減越大，在350～2750nm光譜范圍上衰減明顯，水平面上積累30天灰塵時(shí)玻璃的透光率平均衰減21.8%，40天時(shí)平均衰減45.5%。光伏組件蓋板表面積累的灰塵越多，組件的功率損失越大，積灰量為5.65g/m2時(shí)，功率損失達(dá)到15.2%。然后安裝角度及調(diào)節(jié)方式對光伏組件采光效率也會有一定的影響。為了全方面評估光伏組件在不同條件下的發(fā)電量，IEC(國際電工委員會)提出了新的評估發(fā)電量的標(biāo)準(zhǔn)——IEC61853，標(biāo)準(zhǔn)得提出了在不同溫度、輻照度、入射角變化、光譜分布、對光伏組件性能進(jìn)行測試，實(shí)際數(shù)據(jù)的測量，光伏組件在不同為的溫度、輻照度條件下，室內(nèi)太陽模擬器的實(shí)測結(jié)果，觀察不同條件對光伏組件產(chǎn)生的影響。為將PID影響降低，PID預(yù)防及恢復(fù)措施的研究已受到高度重視。

通過PID預(yù)防及恢復(fù)的證明，PID現(xiàn)象是一種可逆現(xiàn)象，在將實(shí)驗(yàn)所加1000V直流電壓由負(fù)壓變?yōu)檎龎海M(jìn)行恢復(fù)性試驗(yàn)。已出現(xiàn)PID現(xiàn)象影響的問題組件功率得到絕大部分的恢復(fù)。而對于PID的檢測，包括斷開組串與逆變器的連接后，檢測不同組串的電壓；如果不同的組串有不同的電壓，那這可能是由于PID引起的；檢測低電壓組串內(nèi)每一塊組件的電壓，組件的Voc偏低是由于PID引起的。還可以通過EL測試和IV測試來檢測。而其中所用到的設(shè)備能夠智能控制電流的大小，可控制電源輸出脈沖時(shí)間小于1ms的電流；在脈沖電流階段，可以采集脈沖電流、二極管壓降、接線盒溫度等參數(shù)；自動(dòng)用小二乘法模擬VD與TJ的關(guān)系；獲取75℃，ID=Isc時(shí)VD數(shù)據(jù)，計(jì)算75℃下TJ數(shù)值；所有數(shù)據(jù)可以EXCEL形式導(dǎo)出，方便進(jìn)行數(shù)據(jù)處理和分析；可測試二極管正向伏安特性。PID預(yù)防及恢復(fù)裝置包括控制單元、開關(guān)電源、限流單元及電源鉗位單元。成都光伏系統(tǒng)PID預(yù)防及恢復(fù)

一般的情況下PID修復(fù)及預(yù)防設(shè)備可通過向組件施加電壓，使組件的功率得到恢復(fù)。湖北質(zhì)衛(wèi)科技PID預(yù)防及恢復(fù)Mini AntiPID

在PID預(yù)防及恢復(fù)中，漏電流對于PID效應(yīng)的驗(yàn)證，由于銅箔的存在，玻璃表面的絕緣性能被銅箔破壞，覆蓋到銅箔的玻璃區(qū)域，漏電流直接通過銅箔到達(dá)鋁邊框并流出，相當(dāng)于該區(qū)域的玻璃（或該區(qū)域玻璃下面的電池片）被短路了，漏電流因而較大增加，造成了電池片的PID效應(yīng)。不管是不是漏電流，所有電流的大小都與該回路的電壓、電阻有關(guān)：電壓越大，漏電流越大；電阻越大，漏電流越小。因此，除了增加系統(tǒng)電壓（從500V到1000V再到1500V）會增加漏電流外，回路上的電阻也會影響漏電流的大小。影響回路電阻的因素包括封裝材料的體積電阻、玻璃的Na+離子含量、環(huán)境濕度、玻璃表面電阻、邊框密封膠的電阻、鋁邊框的體積電阻和表面電阻等一些。湖北質(zhì)衛(wèi)科技PID預(yù)防及恢復(fù)Mini AntiPID

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