適用于對生物大分子、聚合物等軟樣品進行成像研究特點：對于一些與基底結合不牢固的樣品，輕敲模式與接觸模式相比，很大程度地降低了針尖對表面結構的“搬運效應”。樣品表面起伏較大的大型掃描比非接觸式的更有效。測試優勢：1)低漂移和低噪音水平；2)配置有專有ScanAsys原子成像優化技術，可以簡易快速穩定成像；3)測試樣品尺寸可達：直徑210mm，厚度15mm；4)溫度補償位置傳感器使Z軸和X-Y軸的噪音分別保持在亞-埃級和埃級水平，并呈現出前所未有的高分辨率。；5)全新的XYZ閉環掃描頭在不損失圖像質量的前提下提高了掃描速度；6)測試樣品尺寸可達：直徑210mm，厚度15mm；AFM應用技術舉例：AFM可以在大氣、真空、低溫和高溫、不同氣氛以及溶液等各種環境下工作，且不受樣品導電性質的限制，因此已獲得比STM更為廣泛的應用。 檢測該斥力可獲得表面原子級分辨圖像，一般情況下分辨率也在納米級水平。唐山原子力顯微鏡測試技術

原子力顯微鏡（AtomicForceMicroscope，簡稱AFM）利用微懸臂感受和放大懸臂上尖細探針與受測樣品原子之間的作用力，從而達到檢測的目的，具有原子級的分辨率。由于原子力顯微鏡既可以觀察導體，也可以觀察非導體，從而彌補了掃描隧道顯微鏡的不足。原子力顯微鏡是由IBM公司蘇黎世研究中心的格爾德·賓寧于一九八五年所發明的，其目的是為了使非導體也可以采用類似掃描探針顯微鏡（SPM）的觀測方法。原子力顯微鏡（AFM）與掃描隧道顯微鏡（STM）差別在于并非利用電子隧穿效應，而是檢測原子之間的接觸，原子鍵合，范德瓦耳斯力或卡西米爾效應等來呈現樣品的表面特性、莆田原子力顯微鏡測試廠家原子力顯微鏡（AFM）與掃描隧道顯微鏡（STM）差別在于并非利用電子隧穿效應；

原子力顯微鏡（AtomicForceMicroscope，簡稱AFM）利用微懸臂感受和放大懸臂上尖細探針與受測樣品原子之間的作用力，從而達到檢測的目的，具有原子級的分辨率。由于原子力顯微鏡既可以觀察導體，也可以觀察非導體，從而彌補了掃描隧道顯微鏡的不足。原子力顯微鏡是由IBM公司蘇黎世研究中心的格爾德·賓寧于一九八五年所發明的，其目的是為了使非導體也可以采用類似掃描探針顯微鏡（SPM）的觀測方法。原子力顯微鏡（AFM）與掃描隧道顯微鏡（STM）差別在于并非利用電子隧穿效應，而是檢測原子之間的接觸，原子鍵合，范德瓦耳斯力或卡西米爾效應等來呈現樣品的表面特性、；

二極管激光器（Laser Diode）發出的激光束經過光學系統聚焦在微懸臂（Cantilever）背面，并從微懸臂背面反射到由光電二極管構成的光斑位置檢測器（Detector）。在樣品掃描時，由于樣品表面的原子與微懸臂探針的原子間的相互作用力，微懸臂將隨樣品表面形貌而彎曲起伏，反射光束也將隨之偏移，因而，通過光電二極管檢測光斑位置的變化，就能獲得被測樣品表面形貌的信息。

在系統檢測成像全過程中，探針和被測樣品間的距離始終保持在納米（10e-9米）量級，距離太大不能獲得樣品表面的信息，距離太小會損傷探針和被測樣品，反饋回路(Feedback）的作用就是在工作過程中，由探針得到探針-樣品相互作用的強度，來改變加在樣品掃描器垂直方向的電壓，從而使樣品伸縮，調節探針和被測樣品間的距離，反過來控制探針-樣品相互作用的強度，實現反饋控制。因此，反饋控制是本系統的主要工作機制。本系統采用數字反饋控制回路，用戶在控制軟件的參數工具欄通過以參考電流、積分增益和比例增益幾個參數的設置來對該反饋回路的特性進行控制。 當針尖與樣品充分接近相互之間存在短程相互斥力時；

AFM對RNA的研究還不是很多。結晶的轉運RNA和單鏈病毒RNA以及寡聚Poly(A)的單鏈RNA分子的AFM圖像已經被獲得。因為在于不同的緩沖條件下，單鏈RNA的結構變化十分復雜，所以單鏈RNA分子的圖像不容易采集。（利用AFM成像RNA分子需要對樣品進行特殊和復雜的處理。Bayburt等借鑒Ni2+固定DNA的方法在緩沖條件下獲得了單鏈Pre-mRNA分子的AFM圖像。他們的做法如下：(1)用酸處理被Ni2+修飾的云母基底以增加結合力；(2)RNA分子在70℃退火，慢慢將其冷卻至室溫再滴加在用酸處理過的Ni2+-云母基底上。采用AFM單分子力譜技術，在Mg2+存在的溶液中，Liphardt等研究了形貌多變的RNA分子的機械去折疊過程，發現了從發夾結構到三螺旋連接體這些RNA分子三級結構的過渡態。隨后他們又利用RNA分子證實了可逆非平衡功函和可逆平衡自由能在熱力學上的等效性。）由探針得到探針-樣品相互作用的強度，來改變加在樣品掃描器垂直方向的電壓；麗水原子力顯微鏡測試服務

另一端有一微小的針尖，針尖與樣品表面輕輕接觸，由于針尖原子與樣品表面原子間存在極微弱的排斥力；唐山原子力顯微鏡測試技術

原子力顯微鏡研究對象可以是有機固體、聚合物以及生物大分子等，樣品的載體選擇范圍很大，包括云母片、玻璃片、石墨、拋光硅片、二氧化硅和某些生物膜等，其中常用的是新剝離的云母片，主要原因是其非常平整且容易處理。而拋光硅片要用濃硫酸與30%雙氧水的7∶3 混合液在90 ℃下煮1h。利用電性能測試時需要導電性能良好的載體，如石墨或鍍有金屬的基片。試樣的厚度，包括試樣臺的厚度，為10 mm。如果試樣過重，有時會影響Scanner的動作，請不要放過重的試樣。試樣的大小以不大于試樣臺的大小（直徑20 mm）為大致的標準。稍微大一點也沒問題。但是，值約為40 mm。如果未固定好就進行測量可能產生移位。請固定好后再測定。唐山原子力顯微鏡測試技術